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半导体清洗泵

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  随着半导体芯片制程向7nm、5nm乃至3nm以下不断微缩,晶圆制造对纳米级缺陷的容忍度趋近于零。湿法清洗作为贯穿全流程的关键环节,直接决定了晶圆的表面质量与芯片良率。在先进制程中,清洗工艺不再仅是“去除杂质”,更是对原子级洁净度和表面完整性的极致追求。半导体清洗泵作为该环节的核心流体输送设备,其性能成为突破制程微缩瓶颈、保障生产良率的关键支撑。
  一、半导体制造以高精度、超洁净为核心
 
  湿法清洗贯穿光刻、刻蚀、薄膜沉积、CMP等每一道主要工序,用于去除晶圆表面的亚微米级颗粒、痕量金属离子、有机残留及前序工艺副产物,为后续工序提供原子级洁净的界面。
 
  该工艺依赖超纯化学药液(如SC1、SC2、DHF)与超纯水的稳定输送。清洗泵作为流体输送的执行单元,承担药液循环、精准供给与快速切换功能。
 
  在先进制程中,其性能直接影响到清洗液在晶圆表面的流速分布、温度稳定性与化学浓度均匀性,进而决定整个晶圆甚至批次间的工艺一致性。清洗泵已成为保障芯片良率的基础核心部件。
 
  二、先进制程对半导体清洗泵的核心工艺要求
 
  先进制程(≤7nm)对湿法清洗提出了远超传统制程的苛刻要求,驱动清洗泵必须满足以下四大核心能力:
 
  (一)原子级洁净输送,杜绝痕量污染
 
  先进制程中,晶圆表面可允许的颗粒尺寸已降至10nm以下,金属离子污染需控制在ppt(万亿分之一)级别。任何由泵产生的微颗粒、金属析出、润滑剂挥发或密封件溶出,都会直接造成致命缺陷。清洗泵必须采用无磨损、无接触、无密封、无析出的结构设计,从根本上杜绝污染源,确保介质在输送全过程中保持极限纯度。
 
  (二)超稳定流量与无脉动输出
 
  单片式湿法清洗设备在先进制程中占据主导。晶圆高速旋转时,清洗液需以极其均匀的流量分布覆盖表面。任何微小的流量脉动都会导致清洗液膜厚度波动,引发局部清洗不足或过度刻蚀,严重影响线宽均匀性与图案完整性。泵需提供连续、平稳、无脉动的输出,流量控制精度需达到±1%以内,以响应对超高均匀性的工艺要求。
 
  (三)极端耐腐蚀与材料纯化
 
  清洗药液包括强氧化性、强酸性(如HF、H₂SO₄)、强碱性(如NH₄OH)及多种有机溶剂。在先进制程中,泵的过流部件不仅要耐腐蚀,更要求材料本身经过超纯化处理,将金属离子、Particle及有机物析出率降至极限。材料需与数十种工艺介质长期兼容,避免发生化学侵蚀或溶胀,保障设备在连续生产中的可靠性。
 
  (四)极低剪切力与微气泡抑制
 
  在纳米级图案结构(如FinFET、GAA)的清洗中,高剪切力会破坏脆弱的结构或使药液产生微气泡。气泡在图案表面破裂会产生巨大冲击能,造成图案倒塌或损伤。清洗泵必须采用低剪切设计及宽间隙流道,避免介质中出现气穴、聚集或气泡生成,同时温和输送药液,保护晶圆表面的精细特征。
 
  三、磁悬浮无轴承泵:先进制程湿法清洗的首选方案
 
  磁悬浮无轴承泵凭借其无接触悬浮、无机械磨损、全氟超纯材质等特性,已成为7nm及以下先进制程湿法清洗设备的标准配置。其核心优势在先进制程场景下得到极致发挥:
 
  (一)零颗粒、零析出,满足原子级洁净度
 
  叶轮通过磁悬浮技术完全悬浮于泵腔内,无机械轴承、无轴封、无动密封。运动部件间无任何接触,运行时无摩擦、无磨损、不产生任何颗粒,同时无需润滑油脂,从源头杜绝污染。配合高纯度Teflon等超纯材料过流部件,可满足先进制程对ppt级金属离子和10nm以下颗粒的零容忍要求。
 
  (二)无脉动、高精度流量控制,保障纳米级均匀性
 
  磁悬浮无轴承泵采用无机械换向结构,通过电磁力直接驱动叶轮旋转,输出连续平稳的流量,消除传统泵固有的压力脉动。结合高分辨率位移传感器与先进控制算法,可实现毫秒级流量响应和±1%以内的精准调控,完美匹配单片式清洗设备对快速、稳定、均匀的流体需求。
 
  (三)低剪切、宽流道,兼容各类敏感药液
 
  泵内部流道经优化设计,间隙大、转弯平滑,对清洗液施加的剪切应力极低。该特性尤其适用于CMP后清洗(防止研磨颗粒团聚)、电镀前清洗(保护活化界面)及含表面活性剂的药液输送,有效避免介质分层、气泡生成或活性成分破坏。
 
  (四)高可靠性、低维护,适配7×24小时连续生产
 
  由于无机械接触磨损,磁悬浮无轴承泵的寿命大幅延长,无需定期更换轴承、密封件等易损件。其维护需求极低,显著减少了半导体产线的非计划停机时间,提升综合设备效率(OEE),符合先进制造对高稼动率的严苛要求。
 
  四、在先进制程关键环节中的应用场景
 
  (一)单片式先进湿法清洗
 
  先进制程广泛采用单片式清洗机,对流量响应速度和均匀性要求极高。磁悬浮无轴承泵提供无脉动、快响应的流体供给,配合超纯化学液路,确保晶圆表面各点清洗效果高度一致,有效去除纳米颗粒与金属离子。
 
  (二)刻蚀后残留物去除
 
  在FinFET、GAA等3D结构刻蚀后,高深宽比间隙内残留的聚合物难以清除。清洗泵以稳定、温和的流量输送专用清洗液,确保药液深入结构内部而不造成图案损伤,为后续栅极填充或沉积提供洁净界面。
 
  (三)CMP后清洗
 
  CMP工艺后晶圆表面残留大量研磨颗粒和金属离子。磁悬浮无轴承泵的宽间隙、低剪切特性,避免颗粒在泵内聚集或沉降,以极温和方式输送清洗液,显著降低划伤风险和颗粒残留,直接提升CMP后的产品良率。
 
  (四)电镀前界面活化
 
  先进制程中的铜互连电镀对界面洁净度极其敏感。清洗泵提供超高纯度、无任何污染的清洗介质,确保晶圆表面活化层不受二次污染,为后续电镀提供理想成核界面,提升电镀均匀性与可靠性。
 
  随着制程持续向2nm及以下演进,湿法清洗工艺对流体输送设备的洁净度、稳定性、材质兼容性和智能控制能力提出了前所未有的挑战。磁悬浮无轴承泵以其零接触、无污染、无脉动、低剪切的独特优势,正逐步成为先进制程清洗设备的标配核心部件。未来,清洗泵将朝着更高洁净度(原子级表面控制)、更智能的流量调控(AI自适应预补偿)、更强耐腐蚀新材料方向持续演进,为半导体产业突破物理极限、实现高质量良率提升提供坚实支撑。
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